梁艳珍^1,2，黄 健^1,2
(1. 景德镇陶瓷大学，江西 景德镇 333403；2. 佛山市华夏建筑陶瓷研究开发中心，广东 佛山 528061)

摘 要：以ZrSiO₄、SiO₂、ZrO₂、钾长石等标准物质及它们的合成标样来拟合校准曲线，建立了X射线荧光光谱(XRF)对锆石等含锆化合物的精确测定，同时测定硅酸锆样品中SiO₂、Al₂O₃、Fe₂O₃、TiO₂、CaO、MgO、K₂O、Na₂O、P₂O₅、SO₃、ZrO₂、HfO₂等主次组分。发现样品与99.5%的四硼酸锂做熔剂在熔融稀释比为1:10时混合均匀，加入NH₄Br为脱模剂的情况下，在1050-1100 ℃下预熔180 s后熔融900 s并静止10 s，制得测定熔融片，其结果与标准物质认定值基本一致，各组分测定结果的测量误差小于0.5%，相对标准偏差(RSD,n = 5)小于10%。
关键词：X射线荧光光谱法；硅酸锆；校准曲线