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硅酸锆薄膜的制备及抗氧化性能

谭广繁1,胡 庆1,江伟辉1, 2,刘健敏2,冯 果2,陈 婷2,吴 倩2
(1.景德镇陶瓷大学材料科学与工程学院,江西 景德镇 333403;2.国家日用及建筑陶瓷工程中心,江西 景德镇 333001)

摘 要:以四氯化锆(ZrCl4)和正硅酸乙酯(TEOS)分别为锆源和硅源,采用非水解溶胶-凝胶法结合浸渍-提拉镀膜工艺在碳化硅(SiC)表面制备出抗氧化硅酸锆(ZrSiO4)薄膜。采用XRD、SEM分析测试手段研究了前驱体浓度、镀膜次数、四丁基溴化铵(TBAB)对ZrSiO4薄膜形貌和薄膜厚度的影响。结果表明:当前驱体浓度为0.6 mol/L4次镀膜,加入7wt.%TBAB,可以在SiC基底上制备出表面光滑、致密、无开裂,膜厚约为300 nmZrSiO4薄膜。该薄膜在1450 ℃具有良好的高温抗氧化性能。
关键词:硅酸锆;薄膜;非水解溶胶-凝胶法;抗氧化

  • DOI: 10.13957/j.cnki.tcxb.2017.06.014

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