于 岩 阮玉忠
（福州大学材料学院350002）
摘要：根据硅微粉在不同温度、不同保温时间下的X 射线图谱计算其结晶程度通过测定结晶部分的衍射强度和非晶部分的散射强度就可计算出试样的结晶度；采用日本理学社提供的D／Max 系多峰分离软件程序处理试样的X 射线衍射图这种方法计算较为简单方便所得结果与理论分析结果相符。
关键词：X 射线结晶度