过刊浏览
低温APCVD 法制备氮化硅薄膜

孟祥森, 宋晨路, 余京松, 葛曼珍, 杨 辉

( 浙江大学)

摘 要:本实验用常压化学气相沉积法( APCVD) 在平玻璃基板上沉积了氮化硅薄膜, 研究了基板温度、反应气体比例、热处理等对氮化硅薄膜制备的影响, 发现在700℃以下, NH3/ SiH4 流量比例为15/1 时制得较纯的氮化硅薄膜, 比常规APCVD 法制备温度低大约150 ℃。

关键词:氮化硅, 薄膜, APCVD


  • DOI: 10.13957/j.cnki.tcxb.1999.03.001

  • 查看全文】已下载

打印    收藏      导出BibTex文件      导出EndNote文件      导出XML文件