掺杂TiN 对热压烧结Si3N4 微波介质陶瓷介电性能的影响
作者: 罗宏斌,周建震,肖月朗编辑:qkzzs发布时间:2021-06-01点击:

罗宏斌,周建震,肖月朗

(景德镇陶瓷大学 机械电子工程学院,江西 景德镇 333403)

摘 要:为改善Si3N4微波介质陶瓷介电常数低,不能满足某些毫米波需求的问题,探究掺杂不同质量分数TiN 对热压烧结Si3N4微波介质陶瓷介电性能的影响。采用粉碎球磨一体式混料机对原料进行混合,经热压烧结制成实验样品,使用SEM 和射频阻抗分析仪分别对样品的微观结构及介电常数、介电损耗进行测定,分析样品微观结构、介电常数、介电损耗的变化,总结出掺杂TiN 含量与Si3N4 微波介质陶瓷性能的内在联系。结果表明,随着TiN 质量分数的增加,介电常数不断增加,在TiN 质量分数为10 wt.%,频率为5×108 Hz 时可达到11.9,介电损耗有所升高,都维持在0.005 以下,相比于传统微波介质材料在介电性能上有较大的提升。

关键词:掺杂;TiN;热压烧结;Si3N4微波介质陶瓷;介电性能


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