曾 婷¹，肖汉宁²

(1. 国家电子陶瓷产品质量检验检测中心（湖南），湖南 娄底 417000；2. 湖南大学 材料科学与工程学院，湖南 长沙 410000)

摘 要：X 射线荧光光谱仪（XRF）可以快速、准确地测量陶瓷材料的化学成分，但目前国家和行业标准中尚未采用。为给企业在生产过程中的实时快速监控和检验检测机构的质量监督提供技术手段，建立了使用XRF 测量高铝陶瓷材料中的Al2O3、SiO2、CaO、MgO、K2O、Na2O、Fe2O3、TiO2 等主要成分的方法。此方法能够固体直接采样，进行快速检测，相较于传统分析方法，流程短、速度快、结果准确、对环境友好，更适用于批量检测。

关键词：陶瓷材料；XRF 法；化学成分；常量元素